SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统,可以针对发光器件的光电特性进行有效测量,系统搭配的QEpro光谱仪具有信噪比、低杂散光等特性,可确保测量结果得准确性;同时,系统配有强大的测试软件,对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。

测量参数
- 量子效率
- 亮度
- 量子效率随电流密度的曲线
- 色坐标
- 辐射通量,光通量
- 主波长
应用领域
产品优势
- 体积小巧:便于灵活使用及运输。
- 原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量
- 流程化操作:设备无需频繁校准。
产品参数
系统配置 |
配置方案 | 方案1 | 方案2 |
光谱仪 | 型号 | QEPro / QE65Pro(可选) |
光谱范围(nm) | 350-1100 |
信噪比 | 1000:01:00 |
分辨率 | 2.5 nm (FWHM) |
动态范围 | 85000:1(QEPro单次采集);25000:1(QE65Pro单次采集) |
AD位数 | 18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro) |
积分球 | 尺寸 | 3.3” | 1.5” |
材质 | Spectralon |
源表 | Keithley2400 |
光纤 | 芯径 | 1000um(可更换其他芯径) |
校准灯 | 角度 | 2 Pi | 型号 | HL-3-INT-CAL |
亮度 | 50 流明 | 功率 | 5W(电功率) |
无线遥控 | 通道数 | 4 | 无遥控 |
软件 | SpectrumTEQ-EL专用软件 |