XTDIC-CONST系列三维全场应变测量分析系统，结合数字图像相关技术（DIC）与双目立体视觉技术，通过追踪物体表面的散斑图像，实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的动态测量，具有便携，速度快，精度高，易操作等特点。

XTDIC-Micro显微应变测量系统，将数字图像相关法与双目立体显微镜技术结合，弥补了传统手段无法进行微小物体变形测量的不足，成为微观尺度领域变形应变测量的有力手段，使微小物体的显微应变测量与显微变形测量成为现实。