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思为 半导体缺陷检测设备 材料瑕疵无损超声扫描显微镜 分析仪器
不限
390000
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产品属性
图文详情
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品牌
SHSIWI/思为
型号
YTS500
类型
超声波探伤仪
测量范围
260*100*50mm
分辨率
1um
工作温度
0-40℃
电源
220V
加工定制
加工定制
外形尺寸
800*600*1300mm
重量
100kg
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