Langer XF1 30M-6GHZ 近场探头 全国 现货 促销 低价 诚信
LANGER EMV-Technik为德国近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。
修改测试可用於产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。
修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。
所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定辐射源的位置和辐射强度，从而找出辐射大的零件或电路。
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XF 1近场探头组包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。由于在探头内部配置了阻抗匹配器，该探头组与其他探头（如RF型探头）相比，在低频区较不敏感。
使用XF 1系列的探头，可以逐步辨识电子模块中的干扰磁场源。例如，首先用XF-R 400-1型探头检测电子模块总体发射出的干扰场，然后再用高分辨率探头更准确地识别干扰源。电场探头用于检测电子模块表面的干扰电场。
通过相应地操作近场探头，能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻。
