脉宽可调（芯片缺陷检测用）
脉宽可调器（芯片缺陷检测用）此系列激光器为单模激光器，通过内置从输入的TTL/LVTTL数字信号中产生光脉冲。
脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）脉冲长度从1.5 ns -CW 连续可调，脉冲重频 从单脉冲- 250 MHz可调
脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）对于针对应用（热激光刺激(TLS),Thermal laser stimulation(TLS),芯片存储读取（BBRAM, SRAM）），有着如下特别优势:
需求：需要尽可能小的光斑来加工待测芯片的集中部分，并定位正作用的芯片具体位置。
优势：激光器为单模激光器。输出纤芯尺寸为6μm，通过配套显微镜，可以将它聚焦到1μm以内，提高能流密度
需求：需要时间精度和时间灵活性来使激光脉冲与待测芯片同步、
优势：每个激光器抖动小于8 ps。从而可以将PDM+与芯片同步，并在+/8ps时知道激光脉冲何时到达样品。可以选择从1.5纳秒到连CW 脉冲以及从单次发射到250兆赫的任何脉冲
PDM - HPP系列激光器参数
脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用） 主要特征：
脉冲持续时间:1 ns (FWHM)
单次脉冲、burst mode 或 连续
Max as 4 W峰值功率
抖动(< 8 ps)
可达 250 MHz重复频率
包含脉冲延迟发生器
Python兼容
PDM HP 系列参数
