Langer 集成电路测试环境  ICE1 套件 ,ICE1  Langer 现货

集成电路测试环境 ICE1套 件产品介绍：

利用集成电路（IC）测试系统，通过有针对性地施加骚扰（传导耦合以及电磁场耦合），可以分析电路的特性及其干扰发射情况，下图所示被测IC电路功能测试的试验装置， 

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集成电路用户通过该测试系统获 取IC的电磁兼容性能参数，可以

1、在IC的开发阶段就考虑电磁兼容性能参数

2、根据IC的电磁兼容性能参数，调整布局设计。

3、通过比较多种IC的电磁兼容性能参数，为具体应用选择最佳的IC.

集成电路生产商可以利用该系统测量IC的EMC参数，并在开发的过程中改善IC的电磁兼容特性：

1、通过集成电路的引脚和电磁场测量其EMC参烽。

2、查找分析集成电路出现的拨入薄弱点的原因

3、有效地开发集成电路的电磁兼容性能。

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集成电路（IC）测量环境  ICE1 套件  标准配置