10uS方波浪涌测试设备
一、产品简介
10uS方波浪涌测试设备，是二极管等相关半导体器件测试的重要检测设备，该设备具有如下特点：
1、该系统的测试控制采用自动控制，测试可按测试员设定的程序进行自动测试。
2、该系统采用计算机记录测试结果，并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理。
3、该套测试设备主要由以下几个单元组成：
a、浪涌测试单元
b、阻断参数测试单元
c、计算机控制系统
二、技术条件
2.1 环境要求：
1、环境温度：8—35℃
2、相对湿度：小于75%
3、大气压力：86Kpa—106Kpa
4、海拔高度：1000米以下
5、电网电压：AC220V±10%无严重谐波
6、电网频率：50Hz±1Hz
7、电源功率：小于5KW
8、供电电网功率因数：＞0.9
2.2主要技术指标：
2.2.1浪涌测试单元
a.通态不重复浪涌电流范围：30～2000A（可选到20000A），分辨率1A,精度＜2%±1
b.浪涌电流底宽： 10ms正弦半波，偏差小于±0.2ms（可选1mS.2mS.8.3mS等）
c. 重复浪涌电流时间（可设定）：2S～10S
d.浪涌电流重复次数：1～100次，可设定
e.浪涌电流下的压降测试(仅对正弦波，可选方波)
f.浪涌波形和压降波形显示和保存(仅对正弦波，可选方波)
g 10uS方波电流范围100-2000A，分辨率1A,精度＜3%±1（可选5000A）
2.2.2阻断测试
a.反向电压：100V～1800V可调
b.反向电压重复频率：DC直流
c.漏电流0.01～2mA，分辨率0.001mA,精度满量程的±5%
e.测试方式：自动测试；
g,适合封装：TO-220、TO-247、TO-3P
2.2.3加热功能（可选功能）：显示温度：0-180℃
控温范围：90-180℃
90-125℃ 精度误差1.5%±1
125-150℃精度误差1%±1
150-180℃精度误差2%±1
三、功能概述
3.1测试范围
该套测试设备主要可测试以下器件：
封装：TO-220、TO-247、TO-3P，（其它封装可更换测试夹具工装或可用连线方式）
手动安装测试器件
3.2计算机控制系统
计算机控制系统是该设备的中心控制单元，设备的所有工作程序，工作时序，开关的动作状态，数据的采集等均由计算机完成。
计算机采用的是工业控制机，具有抗电磁ganraoneng力强，排风量大等特点。
( 安徽半导体研发)
四、面板说明
机柜尺寸：800*800*1800带操作台板
10uS方波浪涌测试设备
