E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。

Agilent E4991A射频阻抗/材料分析仪更多特性：

·内置 VBA 编程功能

·通过 LAN 接口进行数据传输

·多功能测量选件

--介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）

--可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）

--温度特性测量（选件 E4991A-007）

Agilent E4991A射频阻抗/材料分析仪

·特性：Agilent E4991A带宽频率覆盖1MHz到1GHz的范围，

能提供完整的介电/磁性材料测量解决方案。

·晶圆测量：借助E4991A-010 探针台连接套件，客户可轻松地地将 Agilent E4991A 连接到射

频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。

·温度特性评估：温度特性测试套件 E4991A-007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的

新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分

析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。

Agilent E4991A射频阻抗/材料分析仪提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能.

·基本精度：?+/-0.8%·扫描参数

·频率：1 MHz 至 3 GHz

·振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

·DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA