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TDH系列手动探针台晶圆忆阻器失效分析IV测试光电流测试Mapping架
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产品属性
图文详情
品牌推荐
品牌
创谱仪器
型号
TDH系列
测量精度
3μm
用途
多被用于科研院校搭建测试系统,例:材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统等等
漏电精度
100fA
针座数量
标配3个
位移精度
3μm
光学放大倍数
200-1000倍
Wafer尺寸
4/6/812英寸
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