CT100NEO离子污染度测试仪可快速对线路板残留离子污染程度做出准确判断，非常适合对线路板有清洗要求的工厂、军工航天和研究院所。

CT100NEO离子污染度测试仪贴合IPC-TM-650、MILP-28809、MIL-STD-2000A、DEF-STD 10/03、IPC-TR-583、IEC等标准的离子污染残留测试要求。

线路板上残留离子污染物在温度和湿度的作用下, 会产生电化学迁移，影响线路板的可靠性，进而影响电子产品的稳定性和使用寿命，离子污染测试为电子制造行业质量管控的一个重要环节，可直接检测并根据测试情况采取工艺改进等措施；
离子污染测试可检测出不明显的、肉眼不可视的离子污染残留。

CT100NEO离子污染度测试仪通过将被测线路板浸入IPA/去离子水混合的测试溶液，萃取其上的离子污染，通过传感器收集后显示为实时曲线和对应的专用离子污染专用单位（ug Eq Nacl/cm² 等同于微克氯化钠每平方厘米），对应相应标准即可判断离子浓度是否符合要求。

CT100NEO离子污染度/浓度测试仪技术参数：

测试精度：0.001 ug Eq Nacl/cm²；

测量范围：0.01-20.00 ug Eq NaCl/cm²；

测试溶液：50%或75% IPA&去离子水；

测试槽体尺寸：80x390x250mm；

电源：230V/110V可选；

重量：17Kg；

CT100NEO离子污染度测试仪特点：

测试通过电脑端的测试软件控制和实现；

操作人员仅需输入测试样品尺寸和将样品浸入测试槽内；

测试全自动进行，离子污染残留值实时显示于测试软件；

每次测试开始前内置过滤装置自动过滤测试溶液至洁净状态；

测试溶液回路由免维护循环泵驱动，结合电磁阀分别形成过滤和测试回路；

非常灵敏的传感器探头(0.0001uS/cm)，内置温度补偿，哪怕小样品、低残留值也能准确测出。

CT100NEO离子污染度测试仪软件特点：

简单易用，中英文操作界面可选；；

专用数据库存储测试参数和数据；

自带数据分析功能，测试数据导出灵活。