高功率直流电子负载(63206A-150-600)
针对电池放电测试,Chroma 63206A-150-600提供用户三种放电模式 : 定电流、定电阻与定功率模式,并透过设定截止电压与停止时间(1秒~100,000秒),让电子负载能正确的停止拉载,确保电池不会因过度放电而损坏。除此之外,在量测方面,能测量电池的放电电量(WH、AH)与总放电时间。举例说明 : 当按下Load ON开始拉载,63200A系列的内部定时器会开始进行计数,直到电池电压降至所设定的截止电压或按下Load OFF停止拉载,定时器才会停止计数。电池放电测试功能亦可应用在超电容的放电时
详细信息
面板说明
1. 电源开关 : 电子负载主机的交流电源开关
2. VFD (Vacuum Fluorescent Display) 显示器 : 显示设置信息
3. 快捷键组 : 拉载模式切换快捷键
5. ENTRY键组 : 数字键及ENTER键
6. 箭头键 : 用来变更画页及选用窗体位置用
7. 可按压旋钮 : 按压旋钮键可进入参数编辑设定,设定完成后,再按压一次旋钮确认输入值
8. USB HOST (尚未支持) : 供用户自定义波形与编程程序数据下载、韧体更新等
9. 负载正负端子
10. 电压感测端子
11. 电压&电流监控输出 : 按比例之电压、电流波形模拟输出
12. 系统总线 : 供主/从控制系统数据传输
13. 系统I/O : 供系统输入/输出控制信号
14. GPIB卡与以太网络卡共享插槽
15. USB接头16. AC输入接头
基本特点
■定电流、定电阻、定电压及定功率操作模式
■定电阻+定电流、定电阻+定电压、定电流+定电压等进阶操作模式
■主/从并联控制,并联数量高达10台
■静态与动态负载下进行同步动态控制
■用户自定义波形(UDW)
■定阻抗(CZ)模式仿真电容性负载开机
■外部负载电流仿真
■高达50kHz的自动变频动态扫瞄 (Sweep)
■实时的电源供应器负载瞬时响应仿真及电压峰值(Vpk+/-)量测
■可透过前面板直接编程255组时序
■超高度的电压及电流量测
■高速且的数字化(Digitizing)资料/量测撷取
■待测物过电流/过载保护时,电压、电流及***大功率点(Pmax)的保护点量测
■时间量测、电池放电计时
■瞬间过功率拉载
■短路模拟、智能型风扇控制
■保护功能:过电流(可调) 、过温度、过功率(可调)保护与过电压、反向告警
■ USB(标配)、 Ethernet、GPIB (选配) 界面
动态负载
在快速的时代里,电子组件皆朝高速运作的方向设计,因此,电源组件对于瞬时的信号及动态响应的性能要求,比过去都高出许多。为满足这些测试应用与要求,63206A-150-600提供高速、可编程动态负载(动态电流负载CCD与动态电阻负载CRD)、动态变频扫扫描(sweep)模式等。下图所示为可编程的参数:设定电流高/低准位、T1/T2、爬升率/下降率与执行次数。在负载电流连续变化时,内部的监测机制与线路能使得电流波形失真度达到***小化,150V该机种的电流爬升***小反应时间为10µs、动态变化可高达50kHz。动态拉载模式提供一个独特的仿真功能,可让用户设定一段时间的重复次数,范围为1 ~ 65535。此功能非常适合应用于测试D/D转换器与电池的瞬间大电流耐受程度。
动态变频扫描控制
台湾致茂/Chroma 63206A-150-600动态频率扫描模式(如右图所示),可线性改变负载电流的频率,频率***高可达50kHz,此模式可测出待测物在***坏情况下的***大/***小电压峰值。此动态频率扫描功能的采样率为500kHz。动态变频扫描负载模式可仿真各种不同负载的情况,符合大部分使用者的需求。而63200A的远程负载传感器及控制线路,可确保不同频率下动态负载操作的波形失真率***小化。
定阻抗模式(CZ MODE)
主板上会有许多电容,为避免服务器电源电源开机时瞬间对主板上的电容充电,而产生涌浪电流导致触发电源供应器的过电流保护机制而无法顺利开机,因此电源供应器需进行容性负载开机测试,为此Chroma 63206A-150-600动针对此一测试需求,提供定阻抗负载模式。定阻抗拉载模式不同于定电流及定功率的拉载方式,定阻抗模式亦即仿真实际的感抗、阻抗、容抗与负载来进行拉载,因此,拉载电流更能趋近真实情况。此波形图为模拟交换式电源供应器于容性负载开机测试的电压、电流波形。
过电流与过功率测试
电源设计时,为确保使用者的安全及降低电源的损坏率,过电流保护或过功率保护机制往往是需要被考虑与设计,63206A-150-600的过电流与过功率测试,可提供使用者自行设定步阶电流或步阶功率来进行电源的过电流或过功率保护测试,并于电子负载判定此测试结果为Pass或Fail,测试过程中的***大功率值(Pmax),亦能自动撷取并显示于显示器上,能帮助使用者不透过示波器即可验证所设计的过电流与过功率机制正确,更可为使用者减少许多测试时间。