WLl-200干涉仪基于白光干涉原理，采用非接触式的测量方法，用于精度的平面和曲面轮廓、 面形误差、 缺陷形态、 波纹度及表面粗糙度的测量，也可分析截面、 刻线凹槽深度和台阶高度等，具有高测量精度、 操作便捷、 功能、测量参数涵盖面广等优点，是目前在3D检测领域精度高的测量仪器之一。