达特高DAKOTA超声波测厚仪MX2-DL双晶传感器的工业用：

• 测量模式：具备脉冲-回波（P-E）模式和回波-回波（E-E）模式。P-E模式测量范围为0.63mm~30.48m（钢）；E-E模式测量范围为2.55~152.4mm（钢，穿过涂层测量，范围取决于涂层）。

• 技术参数：基于FPGA技术的100MHz数字信号处理平台设计。采用1/8英寸VGA灰度显示屏，240x160像素，可视区62x45.7mm，EL背光，25Hz刷新频率。具有50dB增益范围，手动或自动(AGC)增益控制，内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG)。声速范围309.88~18552m/s，分辨率为0.01mm。

• 探头特性：配备双晶探头，频率范围1~10MHz，采用LEMO 00接口，1.2米探头线。

• 存储与输出：内置4GB SD卡，通过USB Type-C接口进行数据输出，可连接Windows PC及OSX进行数据传输和分析。

• 其他特点：支持一点和两点校准方式，可选择公制或英制单位。工作温度为-10~60℃。尺寸为63.5x165x31.5mm，重量385g（包括电池）。符合NIST和MILSTD-45662A标准。