XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示,双向集电极扫描电路,可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析,便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/p,配备扩展装置后,VC可达3KV;可测试CMOS及TTL门电路传输特性;可对场效应管进行配对或对管测试;可测试三端稳压管特性。集电极扫描信号输出电压范围及电流容量0~5V10A(XJ4810A)0~10V5A0~50V1A0~100V0.5A0~500V0.1A 基极阶梯信号阶梯电流0.2μA/级~50mA/级,分17档(XJ4810) 0.2μA/级~100mA/级,分18档(XJ4810A)阶梯电压0.05V级~1V/级,分5档(XJ4810) 0.1V级~2V/级,分5档(XJ4810A)Y轴偏转系数集电极电流10μA/p~0.5A/p,分15档(XJ4810) 10μA/p~1A/p,分16档(XJ4810A)二极管电流0.2μA/p~5μA/p,分5档倍率×0.1X轴偏转系数集电极电压0.05V/p~50V/p,分10档 0.05V/p~1V/p,分5档二族显示二簇曲线左右分列显示并可左右位移一般性能适应电源AC220V±10% 50Hz±4%视在功率约50VA(非测试状态) 约80VA(最大功率)外形尺寸320B×220H×400Dmm重量17kg