MX-6R金相显微镜
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                  MX系列工业检测显微镜
                     
                  主要用于半导体硅晶片检测、LCD液晶屏检测、实验室材料分析及其他精密工程检测领域，可对样品进行明场、暗场及简易偏光观察。
                  性能特点
                        ★系统采用无限远平场消色差、长工作距、明暗场两用物镜，成像清晰、像面平坦
                        ★配备反射式柯拉照明系统，为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明
                        ★正像三通观察筒，25°倾斜，极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性
                        ★配备了6"带离合器机械平台，行程158*158mm，可快速移动
                        ★最佳人机学设计，高刚性镜臂，"Y"型底座，调焦机构采用前置式操作控制，粗微调同轴
                        ★光源采用宽电压数字调光技术，具有光强设定与复位功能
                        ★可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件，拓展应用领域                  MX-6R主要技术参数
                        光学系统无限远色差校正光学系统
                        物镜无限远平场消色差，长工作距金相物镜（明暗场两用），5X、10X、20X、50X、80X
                        目镜高眼点平场目镜，PL10X，线视场φ22mm
                        高眼点平场目镜，PL15X，线视场φ16mm
                        观察筒正像，铰链式三目，25°倾斜，分光比：双目100%，三目100%
                        照明系统反射式柯拉照明，明暗场切换，带简易偏光接口，12V/100W卤素灯，预置中心