CHY-C2薄膜厚度测定仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的厚度测量。符合GB 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等测试标准。　　主要技术指标测量范围：0～2mm(常规)(0～6mm可选)分 辨 率:0.1μm 测量速度：10次/min(可调)测量压力：
17.5±1kPa(薄膜)；〔50±1kPa(纸张)〕接触面积：50mm2(薄膜)；〔200mm2（纸张）〕