1MHz～3GHz，以10kHz分档阻抗测量范围宽，从200mΩ到3kΩ在低试信号电平上具有优良的测量重复性基本精度为1%高速测量:10ms安捷伦 4287A射频LCR测试仪在1 MHz～3 GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。生产率高、质量可靠安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快。此外，在小测试电流(100mA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。系统组建简单测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能、高速GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。便于使用8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7，SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作专用夹具。技术指标测量参数：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ
测量电路形式：串联和并联
工作频率：1 MHz～3 GHz
频率分辨率：10 kHz
信号源特性：
振荡器电平：5mVrms～0.25Vrms(输出端开路)
电平显示单位：V，I，dBm
连接器：APC-3.5
输出阻抗(额定值)：50Ω
触发：内部，外部，手动和GPIB
阻抗测量范围：200 mΩ～3 kΩ
基本测量精度：|Z|:1%；D:0.01
测量时间：10 ms
接口：GPIB，处理器接口
显示器：8.4英寸彩色LCD显示器
储存：内置HDD/FDD，备用SRAM存储器一般指标工作温度/湿度：10～40℃/相对湿度15%～80%
预热时间：30分钟
电源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(最大值)
尺寸：主机：426mm(宽)×234mm(高)×446mm(长)主要技术资料4287A射频LCR 测试仪产品介绍，p/n 5968-5443E
4287A技术指标，p/n 5968-5758E
LCR 测试仪，阻抗分析仪和测试夹具选购指南，p/n 5952-1430E订货信息4287A射频LCR测试仪供应的附件：直插测试头(1m)，APC-3.5转APC-7适配器，16195BAPC-7校准配件，鼠标器，键盘，操作手册和电源线(4287A不提供测试夹具)选件Opt 001 去除16195B校准配件
Opt 002 去除键盘和鼠标器
Opt 003 去除APC-3.5转APC-7适配器
Opt 004 增加全套工作标准套件
Opt 005 磁盘系统闪烁存储器
Opt 020 测试头电缆延伸(1m)可提供的附件16190B 性能测试配件
16195A APC-7校准配件
16192A 平行电极SMD夹具
16196A 用于1608(mm)的平行电极SMD夹具
16196B 用于1005(mm)的平行电极SMD夹具
16196C 用于0603(mm)的平行电极SMD夹具
16191A 侧面电极SMD夹具
16193A 小侧面电极SMD夹具
16194A 高温测试夹具