DSY-II型单晶寿命测试仪，用于测量硅单晶的非平衡少 数载流子寿命。
它是检验半导体单晶质量的关键设备之一。
本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路 级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降 的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
主要技术性能： * 测试单晶电阻率范围： >3Ω.cm； * 可测单晶少子寿命范围： 20μS-5000μS； * 配备光源类型：红外光源，波长：
1.09μm；余辉