FLDT系列半导体激光器（LD）综合参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号，计算得出该LD的光电转换特性（LI和LIM）、伏安特性（IV）、光谱特性（SP）、远场/近场特性（FF）和热特性（T）。打印测试报告，保存数据。测试光功率范围0.1mW-1000W以上，光谱测试范围从400-1700nm，根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括： TO系列、COS 、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。

特点：

*采用单片机控制，按功能模快化设计, USB接口，性能稳定可靠；

* LD驱动电源连续/脉冲工作可选，具有过流保护、低噪声、无浪涌和过脉冲；

*自动完成测试、数据采集、数据处理和显示及打印。