产品特点及性能参数 *封装兼容设计，只要换座头，可兼容测试TSOP封装和LGA封装的FLASH的测试、量产 *大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH *主控板兼容设计，主要更换主控板的主控IC，可实现芯绑，UT165，安国，SMI，NETWORK方案互换 *采用一拖四架构设计，省去外置HUB，每台可同时量产16PCS FLASH芯片，效率倍增 *LGA测试座测试寿命可达20万次以上，是YAMAICHI和OKINS同LGA SOCKET寿命的10倍以上 *探针可更换，维修方便，成本低 *采用手动翻盖式结构，操作方便 *上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位 *高精度的压位槽，保证LGA定位精确，生产效率高 *整机24小时，工作性能稳定可靠，是FLASH经销商及U盘工厂好帮手 *探针材料：铍铜（标准） *绝缘材料：FR-PPS等 *最小可做到跳距pitch=0.4mm（引脚中心到中心的距离） *交货快：最快一天内交货产品主要功能： *对FLASH进行清空及分类挑选 *对NAND FLASH进行格式化，测试实际可用容量 *对FLASH进行直接量产，提高U盘生产效率产品服务 *三个月免费保修 *保修期外，免费维修，如果需换零件，只收材料成本费 *免费提供相关的技术支持定制服务 *可以定制TF卡一拖四的夹具 *可以定制测试FLASH WAFER晶圆探针台 *可定制三合一开卡器 *可定制基于SSD和基于U盘FLASH的LGA测试治具 *提供基于U盘 一拖四TSOP测试夹具（兴邦、安国、迈克威），更换SOCKET可以实现LGA和TSOP共用 *可定制UDP一拖十六测试夹具 *可提供FLASH全端测试解决方案，比如：基于编程器（烧录机）原理的烧录（低端格式化）和U盘的低级格式化解决方案