用途：该X射线晶体分析仪，主要用于研究物质内部微观结构。如：单晶定向、检验缺陷、物质定性、测定点阵参数、测定残余应力等。主要参数：电 源：AC220V 50HZ 30A功 率：2KW靶 材：Cu（可选其他靶材）管电压：50KV（分档可调）管电流：50mA（分档可调）稳定度：±1%保 护：过功率、过电压、过电流、无水冷 却：循环水、制冷水箱防 护：铅有机玻璃防护罩相 机：a)德拜相机（粉沫相机）大、小两种b)劳厄相机（平板相机）上述两种相机，用户可自选配置