XX-2型方块电阻测试仪，是XX型系列四探针方块电阻 测试仪中的新一代产品， 是一种依照类似的国家标准和美国 A.S.T.M标准而设计，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新 型仪器。 可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧 化膜)……等同类物质的薄层电阻。 技术特点： * 测量范围：基本量程：方块电阻 1.00—199.99(Ω/□)； 扩展量程：方块电阻 10.0—1999.9(Ω/□)； * 以大屏幕LCD显示读数，直观清晰。 * 采用单个干电池供电，带电池欠压指示； * 体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； * 带探头与被测物质接触良好指示(LED)； * 单电源开关，推拉式探头-主机接插件，操作极其简便。