牛津仪器X荧光镀层测厚仪 CMI900是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。
․涂镀层厚度测量和/或材料成分分析，元素范围 Ti - U
․可同时进行多达15层元素成分分析
․测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987应用
․多镀层金属厚度测量
․合金鉴定及化学分析
․电镀液分析
․金成色分析
X荧光镀层测厚仪 CMI900
特点
․标准50瓦微焦X射线管
․计数率增加，精度提高
․可升级75瓦光管
․多准直器
․计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡
․激光聚焦
․改善系统再现性（消除人为干扰）
․标准FP软件包
․ 综合应用模式
․ 简单校准
․ 开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标
․ 提供中文等7种语言接口
X荧光镀层测厚仪 CMI900
规格
․ X射线激发
․ 50 瓦微聚焦钨靶 X 射线管
․ 探测器
․ 氙气填充的正比计数器
․ 数字脉冲处理
․ 4096 多道数据分析功能
․ 自动信号处理，包括死时间修正
․ 计算机
․ 奔腾 D，3.0 GHz，160 Gb 硬盘，512Mb 内存，Microsoft
TM XP系统同等配置或更好
․ 电源
․ 85~130 或 215~265 伏， 频率范围：47Hz - 63Hz
․ 工作环境
․ 50°F (10°C) - 104°F (40°C) ，相对湿度达98%，非凝固状态
․ 工作台行程（XYZ 轴可调节）
․ 6" x 7" x 1.9" (15.2cm x 17.8cm x 4.8cm)
