可高精度并自动测试微细形状、段差、粗糙度的微细形状测定机。
英文资料:
Model Lineup
ET200
ET200 is able to trace and analyze nano-level micro figures with high accuracy, appropriate for soften sample surfaces by controlling the measuring force.
Max. sample size | φ160 × t 48 mm |
Repeatability | 1 σ 1 nm or less |
Measuring range | Z: 600 μm X: 100 mm |
Resolution | Z: 0.1 nm X: 0.1 μm |
Measuring force | 10 μN to 500 μN |
ET4000
Excellent in accuracy, stability and functionality, ET4000 is a fully automatic, most appropriate for measurement of micro figure, step height and roughness of FPD, wafers, hard disks, and other nano-order application. ET4000 series can be selected from a number of models according to applications.
Max. sample size | 210 × 210 mm to 300 × 400 mm |
Repeatability | 1 σ within 0.5 nm |
Measuring range | Z: 100 μm X: 100 mm (Y stroke: 150 to 400 mm) |
Resolution | Z: 0.1 nm X: 0.01 μm |
Measuring force | 0.5 μN to 500 μN |
ET5000
ET5000 can automatically measure large-size samples up to size 880 × 680 mm application with high accuracy. Loading\\Unloading sample stage is available an optional.
Max. sample size | 880 × 680 mm |
Repeatability | 1 σ 1 nm |
Measuring range | Z: 100 μm X: 100 mm |
Resolution | Z: 0.1 nm X: 0.1 μm |
Measuring force | 0.5 μN to 500 μN |
Accessory list
日文资料:
机种一栏:
ET200
二次元表面粗さ解析及び段差測定に最適で、高精度?高分解能?優れた安定性を実現、また、微少測定力で軟質試料面にも対応しています。
最大サンプルサイズ | φ160×厚さ48mm |
再現性 | 1σ 1nm以内 |
測定範囲 | Z:600μm X:100mm |
分解能 | Z:0.1nm X:0.1μm |
測定力 | 10μN~500μN |
ET4000
精度?安定性?機能性抜群で、FPD基板?ウエハー?ハードディスク等の微細形状、段差、粗さ測定に最適な全自動微細形状測定機です。また、多機種の中から用途に合わせて選択できます。
最大サンプルサイズ | 210×210mm~300×400mm |
再現性 | 1σ 0.5nm以内 |
測定範囲 | Z:100μm X:100mm (Y移動量:150~400mm) |
分解能 | Z:0.1nm X:0.01μm |
測定力 | 0.5μN~500μN |
ET5000
サンプルサイズ880×680mmまでの大型ワークピースが高精度で自動測定できます。また、サンプルのロード/アンロードできるオプションも用意されています。
最大サンプルサイズ | 880×680mm |
再現性 | 1σ 1nm |
測定範囲 | Z:100μm X:100mm |
分解能 | Z:0.1nm X:0.1μm |
測定力 | 0.5μN~500μN |
付属品一覧