TX220型X射线膜厚仪

TX220型X荧光测厚仪快速、准确、无损的分析多层镀层、合金镀层/涂层,是工业电镀层X荧光测厚仪的首选产品.

X射线膜厚仪应用范围
镀层测厚分析、电镀液离子浓度分析。适用于电镀、真空镀、离子镀的X荧光测厚仪。
钢铁、有色金属、塑胶、废旧原料回收元素分析

X射线镀层测厚仪性能指标
可测镀层：
最多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜
精度： 最高可达0.01um
厚度相对误差：
单层5%，多层10%
厚度范围：
轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um
最小测量直径：
2mm
分析时间： 20～100S

技术参数
探测器： 正比计数器

X光管： 钨（W）靶，最大电压50kV，最大电流1mA
高压电源：
精密X射线专用电源，最高输出电压50kV
滤光片： 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰
准直器：
直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换
对焦系统： 旋钮视觉对焦
样品腔： 大气
样品观察：
高清晰彩色CCD射线头
X射线防护： 三重X射线防护（样品腔、机壳、程序控制）

输入电压： AC 220V/50HZ
功耗： 260W
样品腔尺寸： 660×400×135mm
外型尺寸：
680×460×475mm
重量： 40Kg

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