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FISCHERSCOPE® XAN®
高性能X射线荧光测试仪,用于无损进行材料分析及镀层厚度测量
特点
- 射线由下至上的分析仪,使用极为简便
- 全封闭测量室可以使用较大的准直器从而获得高计数率
- 从下至上的射线方向,从而可以快速简便的放置样品
- 射线激发量的灵活性大,可根据测量面积大小和光谱组成而改变
- 通过硅漂移探测器,在 > 10万cps(每秒计数率) 的超高信号量下也可以正常工作,而不会出现能量分辨率的降低
- 特别适合分析黄金合金和分析塑料中的有害物质痕量
典型应用领域
- 在珠宝和钟表工业中进行黄金和贵金属分析
- 可以测量数纳米薄的镀层,如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层
- 痕量分析,例如电子元件中有害物质分析(RoHS)和工具中有害物质分析
- 使用XAN150对轻元素进行分析,如铝、硅、磷
- 在实验室、检测机构和大学内进行一般的材料分析和镀层厚度测量



