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FISCHERSCOPE® XAN®

高性能X射线荧光测试仪，用于无损进行材料分析及镀层厚度测量

特点

• 射线由下至上的分析仪，使用极为简便
• 全封闭测量室可以使用较大的准直器从而获得高计数率
• 从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品
• 射线激发量的灵活性大，可根据测量面积大小和光谱组成而改变
• 通过硅漂移探测器，在 > 10万cps（每秒计数率） 的超高信号量下也可以正常工作，而不会出现能量分辨率的降低
• 特别适合分析黄金合金和分析塑料中的有害物质痕量

• 在珠宝和钟表工业中进行黄金和贵金属分析
• 可以测量数纳米薄的镀层，如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层
• 痕量分析，例如电子元件中有害物质分析（RoHS）和工具中有害物质分析
• 使用XAN150对轻元素进行分析，如铝、硅、磷
• 在实验室、检测机构和大学内进行一般的材料分析和镀层厚度测量
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