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FISCHERSCOPE® XDLM®

X射线荧光测试仪，可在微小样品上，手动或全自动测量印刷线路板、电子元件和大规模生产零部件上的镀层厚度

特点

• 通用性极广，因为配备了微聚焦管、4个可切换准直器和 3 个基本滤片
• 适用于微小结构，如接插件或线路板
• 还适用于远距离测量（DCM方法，范围0-80 mm）
• 底部C型开槽的大容量测量舱
• 可编程的台式设备，用于自动测量

• 测量印刷线路板工业中，薄金、钯和镍镀层
• 测量接插件镀层和触点镀层
• 在电子和半导体行业中测量功能性镀层
• 黄金、珠宝和钟表工业
  
  

  根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行测量