项目 | 详细参数 |
测试点数 | 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 |
大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点 |
测试步骤 | 最大步骤: 12288步骤,可依需求扩充 |
测试时间 | 开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT) |
元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT) |
测试范围 | 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体/二极体: 0.1V至9.99V |
电容:1.0PF至100mF Zener Diode:标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V |
电感:1.0UH至60H |
隔离点电路 | 隔离点自动选择,每测试步骤5点 |
测试值上下限设定范围 | 上限:+1%至999%下限:-1%至-99% |
可测电路板尺寸 | 标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高) |
选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做. |
主控制电脑 | Pentium4等级以上PC |
监视器 | Super VGA低辐射CRT彩色监视器或彩色液晶显示器 |
记忆设备 | 3.5"
1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台 |
列印机 | 标准配备:40行双色列印机 |
*其它选购配备 | WindowsXP作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文） |
