NT1100可对表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量 范围可从亚纳米级粗糙度到毫米级的台阶高度。NT1100可提供工业标准 的Wyko光学轮廓仪所有的优点，包括完整的Vision32分析软件包。先进 的光学元件可确保在所有放大倍数上具有亚纳米级的垂直分辨率。Data Stitching选配件增加了一个马达驱动的平台用于在一个更大的视场中进 行高分辨率测量。NT1100给MEMS、厚膜、光学元件、陶瓷和先进材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案。
精确的表面形貌测量（二维、三维、柱状统计图等）/亚纳米的垂直分辨率功能强大的WYKO Vision32 分析软件/缝合功能（通过自动样品台实现大表面积样品的测量）
