langer E1 抗干扰开发系统  , E1 Langer 现货  优惠 价格​

E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统，能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因（薄弱点），使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施，并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。E1 检测设备的搭建空间小，适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。E1 用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。

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 E1抗干扰开发系统包含SGZ21突发脉冲发生器，SGZ21能产生连续的类似于Burst或者ESD的干扰脉冲，脉冲的上升沿时间为2ns，下降沿时间为约10ns。这些脉冲包含的能量比2/50ns的Burst脉冲【根据EN 61000-4-4】或ESD【根据EN 61000-4-2】脉冲小，因此能在不损坏被测设备的情况下，把干扰直接耦合到电子模块内。由于SGZ21产生的脉冲，上升沿时间短，峰值电压也比较低，所以这些干扰对被测设备的影响，是和EN 61000-4-4的Burst脉冲的影响类似的。

 E1抗干扰开发系统中SGZ21脉冲的幅度是连续变化的。峰值在0－1500V之间，是按统计平均分布的。利用这种方法，配合传感器能对模块进行特别快速的抗干扰性能评估（脉冲率测试法－见2.5节），为此，发生器内置了一个带光纤（2.2mm塑料光纤）输入的计数器。 
同时SGZ21采用电气隔离（无PE参考）的对称输出。干扰脉冲能被容性耦合，极性可变。这样，就能采用各种耦合方式，例如： 
－把发生器的输出直接连接到被测物的GND系统上，把干扰电流直接注入到GND系统。 －把干扰电流注入到GND，然后从VCC返回。 
－干扰电流可以注入到变压器、分配器或者光耦的初级，从次级返回（在工作电压大于42V时，对SGZ21要有相应的保护） 
连接到发生器的场源，可以很好的定位被测设备的临界结构。