产品说明：

X射线荧光分析仪[EA1000AIII]是将原先需要选购的精度管理型软件进行升级并且作为标配，实现了低价格化。另外，与本公司以往机型相比，大幅度缩短了1/3的测定时间，并大幅提高了吞吐量。

产品参数：

可测量元素　　　原子序数13(Al)～92(U)

样品形态　　　　固体・粉末・液体

X射线源(Rh靶)     管电压：15kV 、40kV 、50kV

　　                     管电流：1mA（10μA～1000μA可变

X射线照射方向　下面照射方式

检测器　　　　　Si半导体检测器(无需液氮)

准直器　　　　　Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自动切换)

样品观察　　　　彩色CCD摄像头

样品室　　　　　370(W) ×320(D) ×120(H)mm

滤波器　　　　　5种模式自动切换（包含OFF）

操作方式　　　　笔记本或台式电脑

软件　　　　　　X-Ray Station

　                        定性分析（能谱测量，自动辨别，KLM标示表示，比较/差异表示）

                           定量分析（块体FP法，块体检量线法）

                     　  常规测量

　　                     环境限制物质测量软件 Ver.2

数据处理　　　　Microsoft® Excel、Microsoft® Word

使用电源　　　　AC100～240V±10%单相

附件　　　　　　样品杯2种（液体样品和微小样品用）

选购项　　　　　自动进样器最多可变更12个样品

                           薄膜FP软件

　　                     薄膜标准曲线软件

　　                     能谱匹配（已登陆的标准物质能谱的比较）

　　                     环境限制物质测量软件 Ver.1

　　                     各种标准物质（各种环境管制用标准物质，无铅焊锡标准物质，无铅焊锡箔标准物质）

　　                     指示灯

　　                     打印机