菲希尔塑胶涂层测厚仪/油漆厚度测量仪

DUALSCOPE?MP40E-S是一款操作简便的镀层厚度测量和灵活的数据采集设备。

存储容量多达1,000数据组的10,000个测量数据，带动态存储分配能力。100个测量应用的内存可用于存储校准和相关的测量数据。

DUALSCOPE?MP40E-S配备有一个独特的和便于读取的60 x 30 mm （2.4' x 1.2'）液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，应用程式号，组号，统计数据，Cp和 Cpk，产品规格限制超出，日期，时间，以及显示操作模式和设置的图标和符号，2行文本各16个字母或可自由选择的符号以用于显示数据和操作员提示。其它特性还包括RS232双向通讯的打印机和PC电脑的连接，声音提示信号，电池或交流供电，以及节电的测量后4分钟自动关机。

使用Fischer的智慧型测量探头ED10，MP40会自动检测出基体的材料并应用合适的测试方法：涡流法或电磁感应法 。能自动识别不同的探头。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。

菲希尔Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪（金镍厚度分析仪）

XDLM-PCB 200型：首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。

设计用途：能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF），用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析

元素范围：从元素氯(17)到铀（92），最多可同时测定24种元素。

形式设计：台式仪器，测量门底部开槽设计。

测量方向：由上往下

X射线管：带铍窗口的微聚焦钨管

高压：三档：30KV，40KV，50KV

孔径（准直器）：0.2mm

基本滤片：固定

测量点尺寸：取决于测量距离和使用的孔径大小；

视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸；

最小测量点约为：0.16mm

测量距离：0-10mm (0-0.4in),使用受专利保护的DCM测量距离补偿法

X射线探测器：比例接收器

线路板元素分析仪

菲希尔Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB210主要用于线路板行业，检测线路板的金镍元素分析，及涂层镀层的测厚仪，菲希尔XDLM-PCB最多可测量24种元素，同时有手动台及自动台区分。其主要的功能是线路板多层镀层厚度测量及材料元素分析。

菲希尔产品的特点：

一个软件程序就可以完成所有测量应用（镀层厚度测量，镀液分析，复杂的多镀层应用均可以次完成测试）