购物袋生产中爆破强度，薄膜在短时间内承受高压时就会爆裂 ,类似于断裂伸长 ,但薄膜受双向拉伸时除外。薄膜受压时 ,测试爆破强度比测试拉伸更合适 ,是薄膜的短期性能 ,而蠕变测试的是薄膜的长期性能。2.冲击性能，抗落镖穿刺性，冲击测试是一种短期测试 ,是以很快的速度将应力作用于试样。落镖测试时镖从恒定高度处落下来 ,镖也可以由气体压力推动。镖尾部的形状是测试的重要因素,一般都是磨圆的,但可以改进测试 ,测量薄膜对任何特殊物体冲击的抗穿刺力。落镖的测试结果是通过或者失败 ,每种载荷下都有一定规定值。此外,还可以将仪器设计成测量落镖通过薄膜时的减速度,然后根据镖的能量损失计算出薄膜断裂所需要的能量。在后一种情况中 ,总是要求镖将薄膜破裂。
购物袋生产中密度梯度法是一种测定固体密度的一种方法。其工作原理是将两种密度不同(重液、轻液)、 可以互相混合的液体适当地混合起来 ,重液的密度比测定材料在高结晶度时的密度大 ,轻 液的密度比测试材料在低结晶度时的密度小 ,混合液由于扩散作用 ,其密度从上到下是连续、逐渐增大的 ;两种混合液放人透明、带有刻度的梯度管后 ,经过适当标准玻璃小球的标定 ,可以作出梯度管高度-密度的关系图,然后就可以进行测量。测量时将试样投人混合液 ,试样就可以悬浮在某一固定位置。根据试样所在位置的高度 ,可以确定薄膜的结晶度。
购物袋生产中光学性能—— 应变时的偏光效果，用偏光显微镜可以观察薄膜内聚烯烃的结晶度。尽管反射光可以用宁更厚的不透明薄膜 ,但偏光光学显微观察用的薄膜必须很薄。如果加热 ,显微镜还可以观察到聚合物的结晶作用和熔融过程。2.扫描电子显微镜—— 蚀刻，扫描电子显微镜 SEM能够揭示出薄膜的结构。一般情况下 ,必须将试样蚀刻 ,改善结晶区外的无定形区 ,或者是将掺混料中的一种组分更迅速地侵蚀。蚀刻形成新的SEM可以观察到的表面结构。必须注意电子束不能毁坏表面 ,也不能在表面上产生人为现象。原子力显微镜聚烯烃薄膜的表面可以揭示全面情况。加工或者是电晕放电等处理中表面结晶的长大和其他不规则性可以采用原子力显微镜 AFM来 研究。和共混物中所看到的一样 ,研究表面上硬度和摩擦力的变化可以揭示出薄膜表面的组分分布。为挤出吹塑成型工艺制备的线性低密度聚乙烯薄膜表面的原子力显微照片。