非标准检测方法的确认程序
一、总则
1、为规范中国实验室国家认可委员会检测方法的确认工作保证方法确认结果的公
正、准确和可靠性特编制本程序。
2、本程序适用于非标准检测方法的确认包括对拟纳入CNAL检测方法库的文件的
建议或申请、受理、文件初审、技术评审、审核确认、通报、批准发布全过程。
3、非标准检测方法确认工作由能力验证分委员会检测方法研究工作组(CNALTC
SC5WG4下简称工作组)负责。工作组由聘请的各领域分析测试专家组成
设组长1人负责工作。工作组下设办公室和若干个专业组。
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CCD电路设计 2．2．1 CCD选择 工程测量中， CCD器件选择的主要依据是测量精度和测量范围。为了获得图像细节，必须要保证CCD的空间分辨率。按照采样定理的要求，如果已知图像的特大的空间频率（即每毫米的线数）， 则抽样频率应大于图像特大空间频率的2倍。例如，设图像的特大空间频率为每毫米40条线数，则抽样频率应大于或等于每毫米80条线数，对应的抽样尺寸（分辨率）为1/80=12．5μm。我们应根据所求得的抽样尺寸选择CCD器件。CCD的抽样尺寸即为所要求的CCD的像元尺寸。若CCD的像元数为N，则其所能测量的特大尺寸也就确定，即为（N×像元数）/β，其中β为光学系统的放大率。 此外，还要保证图像的亮度值处于CCD器件的转换特性允许的动态范围之内，确保转换后的图像信息不失真。如果光学图像亮度值在时间坐标上还有变化（即动态测量），则图像亮度对时间的变化上有一个特高截止频率。按照采样频率定理， CCD在时间坐标上对光学图像的采样频率应保证大于或等于图像特高截止频率的2倍。由此可以确定允许的CCD光积分时间和计算机对信息采集的时间。为保证被测信号的质量，实际采样频率取被测信号特高频率的3～4倍，有时甚至取到10倍。 CCD的像元是由光敏材料制成的。由于材料本身的性能所限，在光电转换时，CCD的各像元存在响应非均匀性和单个像元响应的非线性问题，这都将对测量精度产生影响。因此，选择器件时，应选用响应非均匀性低和线性度好的器件。
CCD非接触检测技术在工业生产中的实际应用
电荷耦合器件(CCD)是20世纪70年代开发及应用的一种新型微型图像传感器,广泛应用于在线检测,处理速度快,可进行非接触尺寸测量和实时监测控制,灵敏度和精细度高,噪音低,便于进行数字化处理和与计算机连接。介绍了CCD的主要测量原理及在工业生产领域中的应用。
电荷耦合器件(charge couple device,CCD)是一种以电荷为信号载体的微型图像传感器,具有光电转换和信号电荷存储、转移及读出的功能,其输出信号通常是符合电视标准的视频信号,可存储于适当的介质或输入计算机,以便于进行图像存储、增强、识别等处理。由于CCD器件可以长时间工作。
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