X-Strata920系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows 7中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对X-Strata920主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、
数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
X-Strata920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。X-Strata920系列采用开槽式样品室，如左图示(图为程控样品台)。它可提供三种规格的样品台供用户选用，分别
为：标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。加深台：可调高度型标准样品台，XY轴手动控制、Z轴自动控制，程控样品台：XYZ轴自动控制。
X-Strata920主要技术规格如下： 1、激发系统：垂直从上至下照式光学系统；空冷式微聚焦型X射线管，Be窗；标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等；功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准；功率可编程控制；装备有安全防射线光闸。
2、滤光片程控交换系统 ：根据靶材，标准装备有相应的一次滤光片系统；二次滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选；位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口。
3、准直器程控交换系统：最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制多种规格尺寸准直器任选：圆形，如4、6、8、12、20 mil等，矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16 mil等。
4、测量斑点尺寸：在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 。在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 。
封气正比计数器
5、X射线探测系统：封气正比计数器；装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路。
仪器原理及测量方法介绍
荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪的特征
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外，适用于无铅焊锡的应用。 备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
