日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。X-Strata920可确保镀层符合规格要求，并将镀层过量或过少镀层废料造成的浪费减至最少。随着X-Strata功能的扩展，用户可以通过该仪器进行更多工作。

这一款新型X-Strata意味着可选择高分辨率硅漂移探测器（SDD）或正比计数器定制仪器，以优化其性能。此外，它现在拥有四个腔室和基座配置，可处理各种形状和尺寸的样品，包括汽车行业中的复杂几何形状。