EXF镀层测厚仪原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
1ROHS检测仪在仪器检测、仪器校准行业中发挥着重要的作用，对于RoHS 检测仪设备生产厂家或者仪器校准第三方机构来说，了解RoHS 检测仪的保养，如何保养维护好RoHS 检测仪非常重要。以下就是仪器检测技术工人的总结：
ROHS检测分析仪：是由欧盟于2003年1月立法制定的一项强制性标准，主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准，目的在于消除电子电气产品中的铅、六价铬、多溴联苯、汞、镉、多溴联苯醚等有害物质。
2015年6月，欧盟公报（OJ）发布RoHS2.0修订指令（EU）2015/863，正式将DEHP、BBP、DBP、DIBP列入附录II 限制物质清单中，至此附录II共有十项强制管控物质。
X荧光光谱仪（XRF）是由激发源（X射线管）和探测系统构成。其工作原理是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
X荧光光谱仪在ROHS检测分析仪的应用
目前，许多电子电气企业基本采用以下两种方法解决产品的ROHS检测分析仪：
一是采用外送检测机关，这种方法一般检测时间很长，一个样品六项指标全部检测完需要7个工作日，且样品抽样量过小，这样造成测试成本过高；
二是自建实验室 ，实验室建造成本很高，动辄都要百万元以上，同时需要配备多名专业人员，人工成本也是个不小的数目。
我国制订的国家标准SJ/T 11365-2006《电子信息产品中有毒有害物质的检测方法》，对ROHS检测分析仪要求中有害元素测试方法给予了限定，其中X射线荧光光谱法作为一种zui快捷、方便的方法被制定为快速筛选方法。
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