HP8720D矢量网络分析仪表征频率范围从50MHz到20GHz内的RF/微波元件特性。HP8720D网络分析仪包括一个快速扫频源、S参数测试装置、调谐接收机和大的彩色显示。这种集成化设计使得HP8720D小型、经济和方便使用。HP8720D对于研究开发、生产制造、产品入库检验或质量保证机构中有成本和时间意识的工程师来说，是一理想的选择。

性能优良且价格合理的分析仪
    HP8720D网络分析仪除价格能被接受外，其性能亦引人注目。集成信号源是全合成化的信号源，即使在扫描时，其稳定度和精度也处在10ppm范围(典型值)。另外，扫描速度极快。典型情况下，测量的更新时间约为每个测量点1ms，频率分辨率标准为100kHz，选件001提供1Hz的分辨率，对窄带或长延迟器件提供精确的测量。 具有可变带宽IF滤波器的调谐接收机提供达103dB的动态范围。内置转换测试装置用一次连接即可测量所有4个S参数(正向和反向)。
    两个独立的通道可同时显示两种测量结果，如反射和传输响应。接收机对幅度和相位两者进行检测，并以多种实用的格式显示测量结果，包括在直角坐标、极坐标或史密斯圆图上显示群延迟、与线性相位的偏离、复阻抗和SWR。
    内置的矢量精度增强措施对所有通用同轴连接器提供优良的误差修正精度。用户配件能提供由用户定义的标准件，允许进行波导校准(包括色散效应)。从简单响应标准到全双端误差修正中选择。或者使用TRL来测量夹具上的非同轴器件(微带)。

测量有源器件的强有力的功能
    HP8720D在其测量端口上有+10dBm的功率，有足够的功率用于对放大器进行测试。对于一些灵敏的小信号器件，内置步进衰减器可以将功率减小到-65dBm。利用功率计的校准功能，绝对功率电平可以在系统的任何地方进行精确调节。功率扫描功能和0.1dB的功率分辨率简化了对有源器件的增益-压缩特性的测试。此外，有2个内部的T型通过测试端口用于偏置晶体管。

分析安装在夹具中和晶片上的器件特性
    利用TRL*校准将夹具误差减至最小，以便对非同轴器件(如微带)进行测量。也可以将网络分析仪与晶片探测台相结合，以便能在晶片上直接测量器件。电子端口延伸和选通也可用来提高精度。

时域和故障定位
    用时域功能（选件010）对被测件（DUT）的响应随时间或距离（而不是频率）的变化进行计算和显示。还可利用时域来查找并定量表示一个网络中个别故障或不连续点的位置。应用选通功能来消除不希望的反射的影响（及时分离），然后观察DUT的真实响应随频率变化的情况。

节省时间
    极限测试功能可以定量并明确地进行合格/不合格判定。根据你的元件的规范，每个通道可以定义多达22个测试极限，调谐更快速，测试更一致。
    为了不用计算机来记录结果，复制功能将整个显示传送至兼容的绘图仪或打印机。内置缓存器对外部设备进行控制，与此同时仍可继续进行下面的测量。
    每个通道的多达5个标记可用来注明迹线的特征，并立即显示。高级标记功能跟踪一个最大值或最小值点，或者计算两个标记之间的delta值。用于带通滤波器，标记自动计算中心频率、带宽和Q值。
    利用储存/调用功能，一个有经验的使用者可以对每个DUT定义并储存测试配置。其他使用者可以在以后类似条件下调用并调整，或者保证对每个DUT测量的一致性。使用5个内部非易失存储器或直接储存/调用到一个外部CS80磁盘驱动器。

系统灵活配置
    选件011去掉了耦合器和转换开关，提供了直接的通路到源输出和3个输入。建立你自己的测试装置或开关矩阵用于大功率、跟踪或多端口器件。或者建立一个具有极好灵敏性的经济系统，用于RCS和近距离天线的测试。使用外部TTL触发可以得到超过200点/秒的精密时间。

附件
    利用测试端口电缆、校准配件和适配器，能组成一套完整的测量系统。还能提供覆盖8.2 ~ 20GHz的X、P(Ku)、K和(Ka)波段的波导校准配件。HP8720C网络分析仪利用了与作为行业标准的HP8510相同的精密校准标准件和结实的软电缆。

用软件增强测量功能
    使用一台台式计算机通过HP-IB接口，可以使网络分析仪实现自动化。HP85162A测量自动化软件指导你进行测量和简化测试配置。使用HP85014C有源器件测量软件，你可以快速和完全的测量晶体管。这个软件包括的型号去掉了嵌入式的HP85041晶体管夹具，也可以控制偏置电源。
    利用HP85070A介质探头配件(包含软件)，能迅速、无损伤地测量材料的介电特性。为了获得更高的精度和灵活性，可利用HP85071A材料测量软件来测量装入波导或同轴夹具中的样品。