HP 8753D选件011可与HP85046A/B和85047A S参数测试装置以及供其它特殊应用的专用测试装置配套使用。用于自动生产的新型选件可以删除内部显示和降低仪器成本（选件1DT）。生产效率的提高 测试时序功能允许一次键入来迅速、反复执行复杂的任务。在时序工 作方式下，只需从面板测量一次，分析仪便能储存键入，以致无需额外编程。还可以利用测试时序经并行或HP-IB端口对外部装置进行控制。另一些生产率特点包括支持LIF和DOS格式的内置软盘驱动器、非易失存储器、串行和并行接口，DIN键盘接口以及对打印输出和文件提供时间记录的实时时钟。还包括极限测试、任意频率测试和标记跟踪功能。通过利用列表扫描工作方式来选择待测试的特殊频率以及在每个频率范围设置独立的中频带宽和功率电平，可以缩短测量时间。分段校准和内插误差修正能提高分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量精度。非线性装置的测试 为了对器件进行更先进的表征，选件002增加了谐波测量功能。可以直接或以相对于基波的数显示放大器的扫描二次和总谐波电平。按动一个按钮，即可测量达－40的谐波。功率计校准向对绝对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的绝对功率。 HP 8753D自动对436A、437B、438A、EPM-441A或EPM-442A功率计进行控制，使在测试系统中任何处的功率都调到具有功率计的精度，或将网络分析仪接收机校准来进行精确的绝对功率测量。为了测量混频器、调谐器和其它频率转换器件，频率偏置工作方式允许对网络分析仪独立于接收机调谐。分析仪很容易以固定中频或扫描中频测试方式完成变频损耗、相位、群延迟和混频器统调的测量。 时域分析 利用选件010，能观察在时域中的反射或传输响应。该分析仪对频域数据的快速傅氏逆变换进行计算，以显示反射系数或传输系数随时间变化的关系。两种时域分析方法能观察器件的阶跃响应或冲击响应。定时选通可用来除去一些不希望的响应，如接头失配，选通结果则可在时域或频率中显示。 1TRL＊和LRM＊是直通—反射—传输线和传输线—反射—匹配校准技术的三取样器执行方式。技术指标摘要 测试装置 集成化的S参数测试装置以50Ω（标准）或75Ω（选件075）提供完满的正向和反向测量。 外部测试装置由HP 8753D选件011提供。 测试端口输出频率特性范围： 30kHz～3GHz（标准） 30kHz～6GHz（选件006） 300kHz～3GHz（选件011） 30kHz～6GHz（选件011、006） 分辩率：1Hz 精度：±10ppm（在25℃±5℃时） 输出特性功率范围：－85～+10dBm；－85～+8dBm（选件075） 分辩率：0.05dB 扫描范围：25dB 电平精度：±1.0dB（相对于0dBm输出电平） 电平线性（30kHz～300kHz典型值）（－15～+5dBm）±0.2dB （+5～+10dBm）±0.5dB 阻抗：50Ω（标准）；75Ω（选件075） 二次谐波：在+10dBm处＜－25dBc（16MHz～3GHz） 三次谐波：在+10dBm处＜－25dBc（16MHz～2GHz） 非谐波寄生信号（典型值）与混频器有关的非谐波寄生信号：在+10dBm处＜－30dBc 测试端口输入特性频率范围：30kHz～3GHz（标准） 30kHz～6GHz（选件006）平均噪声电平 3kHz BW: －82dBm（＜3GHz）, －77dBm（3～6GHz） 10Hz BW: －102dBm（＜3GHz）, －97dBm（3～6GHz） 最大输入电平：+10dBm 损坏电平：±26dBm或35Vdc 阻抗：50Ω（用选件075时为75Ω） 谐波：（选件002） 二次谐波：在+8dBm处为＜－15dBc 三次谐波：在+8dBm处为＜－30dBc 谐波测量精度（在25℃±5℃时）： 16MHz～3GHz: ±1dB 3GHz～6GHz: ±3dB（带选件006） 谐波测量动态范围 －40dBc（输出=－10dBm，输入＜－15dBm） 群延迟特性范围：1/（2×最小孔径）孔径（可以选择的） 最大：频率间隔的20％最小：（频率间隔）/（点数-1） 群延迟精度（单位为秒）： ±（相位精度）（单位为度）/（360×孔径（Hz）） 结构特性尺寸：425（宽）mm×222（高）mm×457（长）mm 重量：净重21公斤