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红外透射膜厚监测仪可测量电池隔膜等半透明片材、黑色抗蚀剂、硅等低反射膜的厚度。

这是一款红外吸收式薄膜测厚仪，可用于从实验室水平到生产过程中100%在线检测的所有情况。
这是一款采用由紧凑型镜面探头组成的透射光学系统的红外膜厚计，通过同时进行 100 多个波长的光谱分析，可以精确测量膜厚、密度和成分等多个参数。

测量半透明片、低反射膜、硅等
的厚度，这是使用光学干涉测量法难以做到的。

小型光纤探头
通过使用小型30mm反射探头，
可以安装在设备或生产线内的狭小空间内。此外，探头
与主体仅使用光纤
连接，因此具有优异的耐环境性。
高速测量100多个点同时采样
950至1650 nm的近红外波长

可以实现短至 1 毫秒的高速采样。
可在生产线上进行实时检测和测量。
由于不会旋转干涉滤光片等，因此具有出色的耐用性和可靠性。
厚度测量重复性0.1%以下（3σ）