OTSUKA大塚电子 Smart膜厚仪SM-110PO 日本原装

OTSUKA大塚电子 Smart膜厚仪SM-110PO 日本原装

品牌型号与产品概述

OTSUKA 大塚电子源自日本，深耕光学分光检测技术领域多年，SM-110PO 属于 Smart 膜厚仪系列 Pro 版本，是面向现场快速检测场景打造的原装手持膜厚设备。这款仪器将分光干涉检测光路、触控显示单元、数据解析模块集成在手持机身内，打破传统台式膜厚仪必须在实验室固定点位检测的限制，检测人员可直接携带设备进入产线、无尘车间、成型工位开展检测。仪器支持单层与最多三层薄膜结构解析，适配硅基底、玻璃、高分子基材表面的透明涂层样品，对于无法裁切、不便移动的异形成型工件同样可以完成无损检测，为生产巡检、来料抽检、现场工艺验证提供灵活便捷的薄膜厚度检测方案。

规格参数详情

SM-110PO 采用反射分光干涉法作为检测原理，光谱检测波段 400nm~1000nm。单层膜测量范围 0.1μm~100μm，多层膜测量范围 1μm~100μm（折射率 1.6 条件下），最多支持三层薄膜同步解析，测量光斑直径在 Φ1mm 以内。单点测量耗时控制在 1 秒以内，针对 1μm 二氧化硅膜样，重复性指标 2.1σ 可达 0.01μm。整机外形尺寸 138 (W)×198 (D)×54 (H) mm，重量约 1.1kg，内置锂电池，可持续工作 4 小时以上。设备自带触控显示屏，检测结果实时显示，检测数据可通过 U 盘导出 CSV 格式文件，供电模式兼顾锂电便携与外接供电，适配不同现场环境，无需配套电脑主机即可独立完成整套检测流程。

核心功能特点

这款膜厚仪采用非接触、非破坏式光学检测方式，检测过程不会划伤样品表面，成品样品检测之后可以继续流转至后续工序，不会造成样品损耗。设备无需提前制作检量线，开机设定材料折射率后就可以直接获取厚度绝对值，降低前期样品标定工作量。支持三层多层膜结构解析，面对复合涂层样品，能够分别输出各层薄膜厚度数值，同时可查看反射光谱信息，辅助工艺人员判断膜层状态。手持一体化设计操作门槛低，界面简洁直观，操作人员经过简单培训就可以独立完成测量，适配产线巡检人员高频次、多点位抽检需求。针对曲面、异形结构工件也可以灵活调整探头角度完成采样，拓展常规台式设备难以覆盖的样品形态。

适用领域用途

SM-110PO 适配多个行业透明涂层、薄膜样品的现场检测工作。在半导体封装领域，用于各类保护涂层、脱模剂涂层、钝化薄膜的现场抽检，评估涂布工艺均匀性；在光学行业，用于光学镜片增透膜、各类功能镀膜的厚度巡检；在显示行业，适配光学膜片表面功能涂层的现场品质核查；在新材料行业，用于高分子基材、板材表面防水、防湿涂层的厚度评价。同时也适合高校、科研院所外出取样、现场试样评价工作，对于大件成型工件、连续涂布产线的在线抽检场景十分友好，可快速反馈工艺波动，辅助产线人员及时调整涂布参数。