DDR2内存条测试治具
滚珠卡扣专利结构，翻盖使用零磨损
超溥式金线导电胶，不烧焊盘和内存颗粒
弹簧过压保护，延长导电胶寿命
卡扣压力自适应，能兼容不同厚度的芯片
限位框可更换，兼容不同大小的内存颗粒 参数: 产品型号: DDR2内存颗粒测试夹具 外壳材质: 铝合金, 合金 导电体: 金线导电胶( GCR ) 绝缘电阻 : 1000 mΩ? Min,At DC 500V 耐电压: 700 AC / 1Minute 接触阻抗: <30 mΩ 机械寿命: 150，000 Times 工作温度: From -40℃ to + 155℃
特点: 手动翻盖滚轴式结构，省力又方便，零磨损，专利号：ZL 2012 2 0056976.7 压块浮动结构，延长导电胶寿命，适用不同厚度的IC 通用性高，只需换限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤16MM） 金手指镀金厚度是普通PCB的10倍（30 μ m），保证测试治具有更好的导通和耐磨性 金线导电胶减短IC与PCB之间数据传输距离，测试更稳定，最高频率可达2GHZ，且更换方便，成本更低全新设计更薄，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，频率衰减更低，减少误测.
与同类治具比较:
