显微结构分析
目的:
显微结构分析是人们通过光学显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)、透视电子显微镜(TEM)、X射线衍射仪(XRD)等分析仪器来研究金属材料、复合材料、各种新材料等的显微组织大小、形态、分布、数量和性质的一种方法。显微组织是指如晶粒、包含物、夹杂物以及相变产物等特征组织。利用这种方法来考查如合金元素、成分变化及其与显微组织变化的关系:冷热加工过程对组织引入的变化规律;应用金相检验还可对产品进行质量控制和产品检验以及失效分析等。故材料微观结构检查是材料质量管控的关键环节。
样品制备多是破坏性实验,即利用砂纸(或钻石砂纸)进行粗磨和细磨,加上后续抛光,可处理出清晰的样品剖面,搭配后续的检测设备(光学显微镜或扫描式电子显微镜)可以观察样品的表面形貌、组织结构、界面形貌、镀层厚度等。
样品剖面研磨的基本流程:
切割:利用切割机裁将样品裁切成适当尺寸
冷埋:利用混合胶填满样品隙缝,增强样品之结构强度,避免受研磨应力而造样品毁损
研磨:样品以不同粗细之砂纸(或钻石砂纸),进行研磨
抛光:于绒布转盘上加入适当的抛光液,进行抛光以消除研磨所残留的细微刮痕
应用:
电子元器件结构观察,如倒装芯片( Flip Chip)、铝/铜制程结构、COMS、POP等
PCB结构及通孔观察
PCBA焊点观察
LED结构观察
金属及零部件结构观察
热阻
热量在热流路径上传递时遇到的阻力,反映介质或介质间的传热能力的大小,表明了1W的热量在1m2的面积内所引起的温升大小,单位为m2K/W或m2℃/W。
热导率(导热系数)
在稳定传热条件下,1m厚的材料,上下两侧表面的温差为1度(K,°C),在1秒内,通过1m2面积传递的热量,用λ表示,单位为瓦/米•开尔文(W/m•K)
依据标准:
稳态热流法:
CPCA 4105-2010 、ASTM D5470-06
激光闪射法:
ASTM E1461-07
无损检测
目的:
通过不破坏产品或零部件结构的方式,观察其内部结构、判断可能的失效模式,大多数样品测试后还可以继续使用。
常用的无损检测手段:
项目名称 | 用途 |
X射线透视检查 | 金属材料及零部件、塑胶材料及零部件、电子元器件、电子组件、LED元件等内部的裂纹、异物的缺陷检测 |
超声波扫描检查 | 电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷 |
渗透探伤检查 | 焊缝、管材表面裂纹、针孔等缺陷检查 |
磁粉探伤检查 | 铁磁性材料表面裂纹、针孔等缺陷检查 |
客户申请的失效分析项目如果涉及诉讼应该怎样解决?
在《失效分析申请表》中,我们特别给出客户申请的项目是否涉及诉讼的选择项,请客户勾选,如果客户申请的项目涉及诉,讼我们为了给出更加准确的分析报告,服务周期必为20 个工作日,不能减少,同时为了体现我们提供服务的价值,我们将加收费用100%,为了提高置信度,客户必须同时提供2-3 个并行样品进行分析。
如果客户提交的失效分析项目不涉及诉讼,我们将在出示的报告中注明此报告不会涉及诉讼的内容,以规避MTT的风险。
科学、准确、廉洁、高效是我们的价值观,诚信、专业、服务、团队、共赢是我们的愿景,我们致力于为客户提供一站式的材料检测、分析与认证服务。