CTS-PA22X
相控阵超声系统CTS-PA22X是我司最新推出的相控阵超声系统，是一个支持二次开发的相控阵平台，集成了电子、软件、信号处理、超声等多项先进技术，可广泛应用于管材、板材、轮轴轮对、叶片、曲轴等各种超声波检测系统之中。
概述
CTS-PA22X提供了精心设计的二次开发接口，用户可在CTS-PA22X的基础上开发应用软件，增加自己特有的功能和界面，集成到自己的系统之中，形成各种专用检测系统。
功能
总体结构原理一套完整的探伤系统由监控主机、CTS-PA22X相控阵检测模块、相控阵探头及相关扫查装置组成。CTS-PA22X是一个独立的模块，通过网线与监控主机相连。运行在监控主机上的软件通过网络接口向CTS-PA22X发送指令，并接收CTS-PA22X回传的数据。
- 提供全套客户端示例程序PA22X-DEMO源代码，该DEMO代码已具备基本的相控阵扇扫、线扫及成像功能，用户可参照DEMO代码进行二次开发，或直接在DEMO代码上增加功能进行开发。
- 内部模块化设计，可根据用户需要提供多种配置，如16:64通道、32:128通道、64:256通道。除了添加相控阵模块，还可以添加常规超声模块。
- 支持增量式升级，用户可先购置基础配置（16:64通道），日后再根据需要添加模块来扩展通道，减少一次性投入。
- 精心设计的二次编程接口，不仅编程简单直观，更支持人工调试，在编程之前，即可人工向CTS-PA22X发送指令，试验修改参数的效果。
- 内置扇扫、线扫等通用法则计算器，只需输入探头、楔块、扫查角度等参数即可生成法则进行扫查，CTS-PA22X同时回送波形数据和处理后的图像，客户端软件只需直接贴图即可实现相控阵成像功能，非常方便。
- 支持自定义聚焦法则。除了内置的通用法则计算器，用户也可自行计算聚焦延迟法则，传送给CTS-PA22X进行自定义扫查，并利用回送的波形数据进行数据处理、图形成像，是算法研究者的利器。
- 支持多组扫查，可连接多个探头，同时对多个部位进行扫查，同时成像。
- 在需要更多检测位置的场合，可由一台监控主机连接多台CTS-PA22X，同时对所有CTS-PA22X进行控制和波形、图像监视，实现多部位同步联动检测。
参数
接收器
带宽: 0.5 ～15MHz
增益范围: 0 ～ 90 dB，步进0.1dB
输入阻抗: 50Ω
TCG补偿: 16点，40 dB/μs
接收延迟: 0～40 μs，精度2.5ns
动态聚焦: 自动DDF
闸门: 硬件闸门A、B，跟踪闸门G，进波/失波，前沿/峰值
数字化率: 62.5 MHz，10 bit
滤波器: 低、中、高3档
系统
通道配置: 16:64或32:128或48:192或64:256四档可选；常规通道可选
功耗: 25 ～ 50 W，依配置不同而异
数据传输: 100M/1000M 以太网
尺寸: 188×238×403
输入输出
相控阵探头接口: IPEX接口
编 码 接 口: 2个增量式编码器
通 用 I/O 口: 25针D型接口
调 试 口: COM口1个
常规探头接口: Q5插座，数量视配置而定
网 络 接 口: 100M/1000M 以太网
USB 接 口: 2个
