横向比长仪的被测长度和已知长度是并列布置的，这种布局可以缩短导轨长度，但要求导轨精度高。采用爱宾斯坦光学系统,可以补偿结构不符合阿贝原则而产生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者，称为光电比长仪；采用激光或其他单色光波长作为已知长度者，分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精确度为±1～±1.5微米/200毫米，光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米，而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。​

1、 将比长仪放在工作台上，将标准杆放入比长仪上下测头球面孔内，松开上测头锁紧螺母、调整上测头与百分表使刻度盘上“0”位于百分表指针对齐后，将上测头锁紧螺母拧紧。

2、 将被测试体擦净，一端钉头放入比长仪下测头球面孔内，另一端钉头轻轻放入比长仪上测头的球面孔内。

3、 左右旋转被测体，使试体与比长仪下测头良好接触。检查比长仪上下测头球面孔内是否有砂粒等脏物。

4、 测量试体读数时，首先读表盘内小表针所指示的数值，然后再读大表针所指示的数值。

5、 比长仪是一种精密的测量仪器，在使用过程中一定要轻拿轻放，保持整洁。