栅线投影三维形貌测量系统可用于物体表面三维形貌和变形测量。由于该系统既可配备10倍变焦远距离显微成像镜头，也可配备普通变焦镜头，使得该系统能同时满足细观及宏观的测量要求。不仅可用于微电子、生物、微机械等微细结构的形貌及变形测量，也可用于混凝土结构、岩土试样等大型构件表面形貌和变形测量。系统配有专用的相移条纹图像处理软件，使得系统测量精度明显提高，并且使用方便、操作简单。主要技术指标:l 有效测量范围：细观 0.5×0.7mm2 ～
5.0×7.0mm2宏观 100×140mm2 ～ 1000×1400mm2l 分辨率： 1/20光栅节距l 实时条纹显示速度：25帧/sl 图像采集分辨率： 576×768l 黑白CCD摄像头：信噪比 56dB，C接口， 配进口12.5～75mm手动变焦镜头l 细观测量采用10 倍手动变焦镜头l 图像采集卡l相移三维变形测量处理软件