光纤高密度云纹干涉仪可用于物体表面面内位移测量。可进行云纹干涉法实验。云纹干涉法是应用高密度衍射光栅和激光干涉技术进行位移和变形测量的一种现代光测力学实验方法。这种方法具有高灵敏度、全场分析、实时观测、高反差条纹和非接触测量等优点。在材料科学、微电子封装、断裂力学、残余应力测量等方面获得成功的应用。由于该仪器采用先进的光纤技术，使得仪器操作方便，工作稳定可靠。进口6自由度样品调节架，更利于试样的对准与调节。主要技术指标：
1. 测量分辨率：优于1/2级条纹2. 有效测量面积：40×40mm23. 试件光栅密度：1200线/mm4. He-Ne激光器功率（标准配置）：10mW5. 实时条纹显示速度：25帧/s6. 图像采集分辨率： 576×7687. 黑白CCD摄像头：信噪比 56dB，C接口，配进口16mm定焦镜头8. USB图像采集卡9. 云纹干涉图像处理软件10. 相移三维形貌测量处理软件